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變壓器繞組電阻測(cè)試時(shí)影響公差的五個(gè)因素

瀏覽次數(shù):427發(fā)布日期:2022-06-27

影響電阻或電阻率測(cè)試誤差的五個(gè)主要因素,包括:環(huán)境溫度和濕度、測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)備泄漏和外部干擾。

  a.環(huán)境溫度和濕度

  典型材料的電阻值隨著環(huán)境溫度和濕度的增加而降低。相對(duì)而言,表面電阻(率)對(duì)環(huán)境濕度敏感,而體電阻(率)對(duì)溫度敏感。隨著濕度增加,表面泄漏增加,電導(dǎo)率流動(dòng)增加。當(dāng)溫度升高時(shí),載流子的運(yùn)動(dòng)速率增加,介電材料的吸收電流和電導(dǎo)率也相應(yīng)增加。據(jù)有關(guān)資料顯示,70℃時(shí)介質(zhì)的電阻在20℃時(shí)僅為10%。因此,在測(cè)量材料的電阻時(shí),需要指出樣品與環(huán)境處于平衡狀態(tài)的溫度和濕度。

  b.測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)

  介電材料的電阻(速率)值通常不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持恒定,即不適用歐姆定律。在常溫條件下,在較低的電壓范圍內(nèi),電導(dǎo)率隨外加電壓的增加呈線性增加,材料的電阻值保持不變。超過(guò)一定電壓后,電離電流的增加遠(yuǎn)快于測(cè)試電壓的增加,材料的電阻值迅速下降??梢钥闯?,通過(guò)變壓器繞組電阻測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試時(shí),施加的測(cè)試電壓越高,材料的電阻值越低,因此在不同電壓下測(cè)試的材料的電阻值可能會(huì)有很大的差異。

  C.測(cè)試時(shí)間

  當(dāng)變壓器繞組電阻測(cè)試儀以一定的直流電壓對(duì)被測(cè)材料施加壓力時(shí),被測(cè)材料上的電流并不是瞬間達(dá)到穩(wěn)定值,而是有一個(gè)衰減過(guò)程。加壓的同時(shí)流過(guò)大的充電電流,然后是比較慢的吸收電流較長(zhǎng)時(shí)間,最后達(dá)到比較平穩(wěn)的電流流動(dòng)。測(cè)得的電阻值越高,達(dá)到平衡的時(shí)間越長(zhǎng)。因此,為了在測(cè)量過(guò)程中正確讀取被測(cè)電阻值,應(yīng)在穩(wěn)定后讀取值或加壓1分鐘后的讀數(shù)值。

  此外,高絕緣材料的電阻值也與充電歷史有關(guān)。為準(zhǔn)確評(píng)價(jià)材料的靜電性能,在對(duì)材料進(jìn)行電阻(率)測(cè)試時(shí),應(yīng)先斷電并靜置一段時(shí)間??梢孕菹?分鐘,然后使用變壓器繞組電阻測(cè)試儀。儀器測(cè)試。一般來(lái)說(shuō),對(duì)一種材料的檢測(cè),至少應(yīng)隨機(jī)抽取3~5個(gè)樣品進(jìn)行檢測(cè),取平均值作為檢測(cè)結(jié)果。

  d.測(cè)試設(shè)備泄漏

  在使用變壓器繞組電阻測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試時(shí),線路中絕緣電阻低的接線往往與被測(cè)樣品和采樣電阻并聯(lián)不當(dāng),可能對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響。為此:

  為減少測(cè)量誤差,應(yīng)采用保護(hù)技術(shù),在漏電流較大的線路上加裝保護(hù)導(dǎo)體,基本消除雜散電流對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;

  由于高壓線表面因表面電離對(duì)地有一定的漏電現(xiàn)象,所以盡量采用絕緣性高、線徑大的高壓線作為高壓輸出線,縮短連線為盡可能減少和消除電暈放電。

  試驗(yàn)臺(tái)和支架采用聚乙烯等絕緣材料制成,避免因此類原因?qū)е略囼?yàn)值偏低。

  e.外部干擾

  高絕緣材料加上直流電壓后,通過(guò)樣品的電流很小,極易受到外界干擾,導(dǎo)致測(cè)試誤差較大。熱電勢(shì)和接觸電勢(shì)一般很小,可以忽略不計(jì);電解電位主要是濕樣品與不同金屬接觸引起的,只有20 mV左右。此外,在靜態(tài)測(cè)試中要求相對(duì)濕度較低。在干燥環(huán)境中測(cè)試時(shí),消除電解電位。因此,在用變壓器繞組電阻測(cè)試儀測(cè)試時(shí),外部干擾主要是雜散電流的耦合或靜電感應(yīng)產(chǎn)生的電位。當(dāng)測(cè)試電流小于10-10A或被測(cè)電阻超過(guò)1011歐姆時(shí);被測(cè)樣品、測(cè)試電極和測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)采取嚴(yán)格的屏蔽措施,以消除外界干擾的影響。